Measurement of theB→J/ψK*(892) Decay Amplitudes

Aubert, B.; Boutigny, D.; Gaillard, J.-M.; Hicheur, A.; Karyotakis, Y.; Lees, J. P.; Robbe, P.; Tisserand, V.; Palano, A.; Chen, G. P.; Chen, J. C.; Qi, N. D.; Rong, G.; Wang, P.; Zhu, Y. S.; Eigen, G.; Reinertsen, P. L.; Stugu, B.; Abbott, B.; Abrams, G. S.; Borgland, A. W.; Breon, A. B.; Brown, D. N.; Button-Shafer, J.; Cahn, R. N.; Clark, A. R.; Gill, M. S.; Gritsan, A.; Groysman, Y.; Jacobsen, R. G.; Kadel, R. W.; Kadyk, J.; Kerth, L. T.; Kluth, S.; Kolomensky, Y.-U. G.; Kral, J. F.; LeClerc, C.; Levi, M. E.; Liu, T.; Lynch, G.; Meyer, A. B.; Momayezi, M.; Oddone, P. J.; Perazzo, A.; Pripstein, M.; Roe, N. A.; Romosan, A.; Ronan, M. T.; Shelkov, V. G.; Telnov, A. V.; Wenzel, W. A.; Bright-Thomas, P. G.; Harrison, T. J.; Hawkes, C. M.; Kirk, A.; Knowles, D. J.; O'Neale, S. W.; Penny, R. C.; Watson, A. T.; Watson, N. K.; Deppermann, T.; Goetzen, K.; Koch, H.; Krug, J.; Kunze, M.; Lewandowski, B.; Peters, K.; Schmuecker, H.; Steinke, M.; Andress, J. C.; Barlow, N. R.; Bhimji, W.; Chevalier, N.; Clark, P. J.; Cottingham, W. N.; De Groot, N.; Dyce, N.; Foster, B.; McFall, J. D.; Wallom, D.; Wilson, F. F.; Abe, K.; Hearty, C.; Mattison, T. S.; McKenna, J. A.; Thiessen, D.; Jolly, S.; McKemey, A. K.; Tinslay, J.; Blinov, V. E.; Bukin, A. D.; Bukin, D. A.; Buzykaev, A. R.; Golubev, V. B.; Ivanchenko, V. N.; Korol, A. A.; Kravchenko, E. A.; Onuchin, A. P.; Salnikov, A. A.; Serednyakov, S. I.; Skovpen, Y.-U. I.; Telnov, V. I.; Yushkov, A. N.; Best, D.; Lankford, A. J.; Mandelkern, M.; McMahon, S.; Stoker, D. P.; Ahsan, A.; Arisaka, K.; Buchanan, C.; Chun, S.; Branson, J. G.; MacFarlane, D. B.; Prell, S.; Rahatlou, S.-H.; Raven, G.; Sharma, V.; Campagnari, C.; Dahmes, B.; Hart, P. A.; Kuznetsova, N.; Levy, S. L.; Long, O.; Lu, A.; Richman, J. D.; Verkerke, W.; Witherell, M.; Yellin, S.; Beringer, J.; Dorfan, D. E.; Eisner, A. M.; Frey, A.; Grillo, A. A.; Grothe, M.; Heusch, C. A.; Johnson, R. P.; Kroeger, W.; Lockman, W. S.; Pulliam, T.; Sadrozinski, H.; Schalk, T.; Schmitz, R. E.; Schumm, B. A.; Seiden, A.; Turri, M.; Walkowiak, W.; Williams, D. C.; Wilson, M. G.; Chen, E.; Dubois-Felsmann, G. P.; Dvoretskii, A.; Hitlin, D. G.; Metzler, S.; Oyang, J.; Porter, F. C.; Ryd, A.; Samuel, A.; Weaver, M.; Yang, S.; Zhu, R. Y.; Devmal, S.; Geld, T. L.; Jayatilleke, S.; Mancinelli, G.; Meadows, B. T.; Sokoloff, M. D.; Barillari, T.; Bloom, P.; Dima, M. O.; Fahey, S.; Ford, W. T.; Johnson, D. R.; Nauenberg, U.; Olivas, A.; Park, H.; Rankin, P.; Roy, J.; Sen, S.; Smith, J. G.; van Hoek, W. C.; Wagner, D. L.; Blouw, J.; Harton, J. L.; Krishnamurthy, M.; Soffer, A.; Toki, W. H.; Wilson, R. J.; Zhang, J.; Brandt, T.; Brose, J.; Colberg, T.; Dahlinger, G.; Dickopp, M.; Dubitzky, R. S.; Maly, E.; Müller-Pfefferkorn, R.; Otto, S.; Schubert, K. R.; Schwierz, R.; Spaan, B.; Wilden, L.; Behr, L.; Bernard, D.; Bonneaud, G. R.; Brochard, F.; Cohen-Tanugi, J.; Ferrag, S.; Roussot, E.; T'Jampens, S.; Thiebaux, C.; Vasileiadis, G.; Verderi, M.; Anjomshoaa, A.; Bernet, R.; Khan, A.; Muheim, F.; Playfer, S.; Swain, J. E.; Falbo, M.; Borean, C.; Bozzi, C.; Dittongo, S.; Folegani, M.; Piemontese, L.; Treadwell, E.; Anulli, F.; Baldini-Ferroli, R.; Calcaterra, A.; de Sangro, R.; Falciai, D.; Finocchiaro, G.; Patteri, P.; Peruzzi, I. M.; Piccolo, M.; Xie, Y.; Zallo, A.; Bagnasco, S.; Buzzo, A.; Contri, R.; Crosetti, G.; Fabbricatore, P.; Farinon, S.; Lo Vetere, M.; Macri, M.; Monge, M. R.; Musenich, R.; Pallavicini, M.; Parodi, R.; Passaggio, S.; Pastore, F. C.; Patrignani, C.; Pia, M. G.; Priano, C.; Robutti, E.; Santroni, A.; Morii, M.; Bartoldus, R.; Dignan, T.; Hamilton, R.; Mallik, U.; Cochran, J.; Crawley, H. B.; Fischer, P.-A.; Lamsa, J.; Meyer, W. T.; Rosenberg, E. I.; Benkebil, M.; Grosdidier, G.; Hast, C.; Höcker, A.; Lacker, H. M.; LePeltier, V.; Lutz, A. M.; Plaszczynski, S.; Schune, M. H.; Trincaz-Duvoid, S.; Valassi, A.; Wormser, G.; Bionta, R. M.; Brigljević, V.; Lange, D. J.; Mugge, M.; Shi, X.; van Bibber, K.; Wenaus, T. J.; Wright, D. M.; Wuest, C. R.; Carroll, M.; Fry, J. R.; Gabathuler, E.; Gamet, R.; George, M.; Kay, M.; Payne, D. J.; Sloane, R. J.; Touramanis, C.; Aspinwall, M. L.; Bowerman, D. A.; Dauncey, P. D.; Egede, U.; Eschrich, I.; Gunawardane, N. J. W.; Nash, J. A.; Sanders, P.; Smith, D.; Azzopardi, D. E.; Back, J. J.; Dixon, P.; Harrison, P. F.; Potter, R. J. L.; Shorthouse, H. W.; Strother, P.; Vidal, P. B.; Williams, M. I.; Cowan, G.; George, S.; Green, M. G.; Kurup, A.; Marker, C. E.; McGrath, P.; McMahon, T. R.; Ricciardi, S.; Salvatore, F.; Scott, I.; Vaitsas, G.; Brown, D.; Davis, C. L.; Allison, J.; Barlow, R. J.; Boyd, J. T.; Forti, A. C.; Fullwood, J.; Jackson, F.; Lafferty, G. D.; Savvas, N.; Simopoulos, E. T.; Weatherall, J. H.; Farbin, A.; Jawahery, A.; Lillard, V.; Olsen, J.; Roberts, D. A.; Schieck, J. R.; Blaylock, G.; Dallapiccola, C.; Flood, K. T.; Hertzbach, S. S.; Kofler, R.; Moore, T. B.; Staengle, H.; Willocq, S.; Brau, B.; Cowan, R.; Sciolla, G.; Taylor, F.; Yamamoto, R. K.; Milek, M.; Patel, P. M.; Trischuk, J.; Lanni, F.; Palombo, F.; Bauer, J. M.; Booke, M.; Cremaldi, L.; Eschenburg, V.; Kroeger, R.; Reidy, J.; Sanders, D. A.; Summers, D. J.; Martin, J. P.; Nief, J. Y.; Seitz, R.; Taras, P.; Zacek, V.; Nicholson, H.; Sutton, C. S.; Cartaro, C.; Cavallo, N.; De Nardo, G.; Fabozzi, F.; Gatto, C.; Lista, L.; Paolucci, P.; Piccolo, D.; Sciacca, C.; LoSecco, J. M.; Alsmiller, J. R. G.; Gabriel, T. A.; Handler, T.; Brau, J.; Frey, R.; Iwasaki, M.; Sinev, N. B.; Strom, D.; Colecchia, F.; Dal Corso, F.; Dorigo, A.; Galeazzi, F.; Margoni, M.; Michelon, G.; Morandin, M.; Posocco, M.; Rotondo, M.; Simonetto, F.; Stroili, R.; Torassa, E.; Voci, C.; Benayoun, M.; Briand, H.; Chauveau, J.; David, P.; De la Vaissière, C.; Del Buono, L.; Hamon, O.; Le Diberder, F.; Leruste, P.-H.; Lory, J.; Roos, L.; Stark, J.; Versillé, S.; Manfredi, P. F.; Re, V.; Speziali, V.; Frank, E. D.; Gladney, L.; Guo, Q. H.; Panetta, J. H.; Angelini, C.; Batignani, G.; Bettarini, S.; Bondioli, M.; Carpinelli, M.; Forti, F.; Giorgi, M. A.; Lusiani, A.; Martinez-Vidal, F.; Morganti, M.; Neri, N.; Paoloni, E.; Rama, M.; Rizzo, G.; Sandrelli, F.; Simi, G.; Triggiani, G.; Walsh, J.; Haire, M.; Judd, D.; Paick, K.; Turnbull, L.; Wagoner, D. E.; Albert, J.; Bula, C.; Elmer, P.; Lu, C.; McDonald, K. T.; Miftakov, V.; Schaffner, S. F.; Smith, A. J. S.; Tumanov, A.; Varnes, E. W.; Cavoto, G.; del Re, D.; Faccini, R.; Ferrarotto, F.; Ferroni, F.; Fratini, K.; Lamanna, E.; Leonardi, E.; Mazzoni, M. A.; Morganti, S.; Piredda, G.; Safai Tehrani, F.; Serra, M.; Voena, C.; Christ, S.; Waldi, R.; Adye, T.; Franek, B.; Geddes, N. I.; Gopal, G. P.; Xella, S. M.; Aleksan, R.; De Domenico, G.; Emery, S.; Gaidot, A.; Ganzhur, S. F.; Giraud, P.-F.; Hamel de Monchenault, G.; Kozanecki, W.; Langer, M.; London, G. W.; Mayer, B.; Serfass, B.; Vasseur, G.; Yeche, C.; Zito, M.; Copty, N.; Purohit, M. V.; Singh, H.; Yumiceva, F. X.; Adam, I.; Anthony, P. L.; Aston, D.; Baird, K.; Bloom, E.; Boyarski, A. M.; Bulos, F.; Calderini, G.; Claus, R.; Convery, M. R.; Coupal, D. P.; Coward, D. H.; Dorfan, J.; Doser, M.; Dunwoodie, W.; Field, R. C.; Glanzman, T.; Godfrey, G. L.; Gowdy, S. J.; Grosso, P.; Himel, T.; Huffer, M. E.; Innes, W. R.; Jessop, C. P.; Kelsey, M. H.; Kim, P.; Kocian, M. L.; Langenegger, U.; Leith, D. W. G. S.; Luitz, S.; Luth, V.; Lynch, H. L.; Marsiske, H.; Menke, S.; Messner, R.; Moffeit, K. C.; Mount, R.; Muller, D. R.; O'Grady, C. P.; Perl, M.; Petrak, S.; Quinn, H.; Ratcliff, B. N.; Robertson, S. H.; Rochester, L. S.; Roodman, A.; Schietinger, T.; Schindler, R. H.; Schwiening, J.; Serbo, V. V.; Snyder, A.; Soha, A.; Spanier, S. M.; Stelzer, J.; Su, D.; Sullivan, M. K.; Tanaka, H. A.; Va'vra, J.; Wagner, S. R.; Weinstein, A. J. R.; Wisniewski, W. J.; Wright, D. H.; Young, C. C.; Burchat, P. R.; Cheng, C. H.; Kirkby, D.; Meyer, T. I.; Roat, C.; Henderson, R.; Bugg, W.; Cohn, H.; Weidemann, A. W.; Izen, J. M.; Kitayama, I.; Lou, X. C.; Turcotte, M.; Bianchi, F.; Bona, M.; Di Girolamo, B.; Gamba, D.; Smol, A.; Zanin, D.; Lanceri, L.; Pompili, A.; Vuagnin, G.; Panvini, R. S.; Brown, C. M.; De Silva, A.; Kowalewski, R.; Roney, J. M.; Band, H. R.; Charles, E.; Dasu, S.; Di Lodovico, F.; Eichenbaum, A. M.; Hu, H.; Johnson, J. R.; Liu, R.; Nielsen, J.; Pan, Y.; Prepost, R.; Scott, I. J.; Sekula, S. J.; von Wimmersperg-Toeller, J. H.; Wu, S. L.; Yu, Z.; Zobernig, H.; Kordich, T. M. B.; Neal, H.

Published in

American Physical Society, Physical Review Letters, 24(87), 2001

DOI: 10.1103/physrevlett.87.241801

Tools

Export citation

Search in Google Scholar

Measurement of theB→J/ψK*(892) Decay Amplitudes

Journal article published in 2001 by B. Aubert, D. Boutigny, J.-M. Gaillard, A. Hicheur, Y. Karyotakis, J. P. Lees, P. Robbe, V. Tisserand, A. Palano, G. P. Chen, J. C. Chen, N. D. Qi, G. Rong, P. Wang, Y. S. Zhu and other authors.

This paper was not found in any repository, but could be made available legally by the author.

Full text: Unavailable

Preprint: archiving allowed

Upload

Postprint: archiving allowed

Upload

Published version: archiving allowed

Upload

Policy details

Data provided by

Published in

Links

Tools

Measurement of theB→J/ψK*(892) Decay Amplitudes